项目概述

​ DataAnalyzer 是一个数据分析工具，用于处理和分析数据集。该项目包含数据读取、数据处理、统计分析等功能模块。 WaferMapService 和 G85Generator 是用于处理晶圆图数据的组件，目前用于将晶圆数据转换为符合 SEMI G85-0703 标准的 XML 格式。 G85Generator 组件功能 主要功能 • XML 生成: 将晶圆图数据转换为 SEMI G85-0703 标准格式的 XML • 数据序列化: 使用 XmlSerializer 将 WaferMapBase 对象序列化为 XML • 数据统计: 计算晶圆图的统计数据（良品数量、Bin 分类统计等） 核心方法 • GenerateXml() - 主要的 XML 生成方法 • CreateG85Map() - 创建 G85 格式的晶圆图对象 • CalculateStatistics() - 计算晶圆图统计信息 如何打开和解析

1. 项目结构

   public interface IDieData
   {
       int Row { get; set; }
       int Column { get; set; }
       int X { get; set; }
       int Y { get; set; }
       /// <summary>
       /// 位于晶圆内部
       /// </summary>
       bool IsInsideWafer { get; set; }
       /// <summary>
       /// 被切断的die
       /// </summary>
       bool IsCutoff { get; set; }
       /// <summary>
       /// Row Column 没有芯片
       /// </summary>
       bool NotHasChip { get; set; }
       /// <summary>
       /// 标记点
       /// </summary>
       bool IsMark    { get; set; }
   
       string BinCode { get; set; }
   }
   

2. 使用方法 打开XML

 if (_fileService.GetFile("XML|*.xml|文本文件|*.txt|所有文件|*.*", "Map文件", out var filePath))
 {
     var table = _mapService.ParseWaferMap(filePath);
     if (table.Success)
     {   
     }
 }

导出SemiG85XML

~~~c#

          var wMapGi5 = new SemiG85XmlWaferMapParser();    
          var meo = new MapExportOptions()
          {
              ReferenceDevices = new List<ReferenceDevice>()
                  {
                      new ReferenceDevice()
                      {
                          ReferenceDeviceX = "11",
                          ReferenceDeviceY = "3",
                      }
                  }, DefaultProductId = "ProductId ",
          }; 
          wMapGi5.DieDatas.AddRange(Dies);  
          wMapGi5.DieDatas.ForEach(a =>
          {  
          });

          var strXml = G85Generator.GenerateXml(wMapGi5, meo); 
          var file = _fileService.SaveFile("xml", "Map文件");
          if (file != "")
          {
              File.WriteAllText(file, strXml, Encoding.ASCII);
          }

参数说明
•	waferMap: WaferMapBase 类型的晶圆图数据
•	options: MapExportOptions 类型的导出选项
3. 数据解析
数据来源
•	从 MapLayout 获取晶圆布局信息
•	从 DieDatas 获取晶圆上的单个芯片数据
•	从 BinDefinitions 获取分类定义
解析流程
1.	数据提取: 从 WaferMapBase 对象提取晶圆信息
2.	统计计算: 计算良品数量、Bin 分类统计
3.	矩阵生成: 创建晶圆矩阵表示每个位置的芯片状态
4.	XML 序列化: 将数据序列化为 SEMI G85-0703 标准的 XML 格式
4. 输出格式
生成的 XML 包含以下主要元素：
•	设备信息: 产品 ID、批次 ID、晶圆尺寸等
•	晶圆布局: 行数、列数、步进尺寸等
•	分类统计: 各 Bin 类型的数量统计
•	晶圆图数据: 以字符矩阵形式表示的晶圆图
5. 依赖项
•	System.Xml - XML 序列化
•	System.Xml.Serialization - XML 序列化支持
•	DataAnalyzer.WaferMaps - 晶圆图数据模型
6. 特殊处理
•	布局推断: 当 MapLayout 中没有行列数时，从 DieData 推断
•	默认值: 提供合理的默认值处理缺失数据
•	字符映射: 将分类代码映射到字符矩阵中的相应字符